-
- 基于光色電綜合測(cè)試系統(tǒng)的多參數(shù)檢測(cè)方法
隨著科技的不斷發(fā)展，各類電子設(shè)備與光電系統(tǒng)在許多領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用，例如在光通信、顯示技術(shù)、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)中，準(zhǔn)確的光電參數(shù)檢測(cè)顯得尤為重要?；诠馍娋C合測(cè)試系統(tǒng)的多參數(shù)檢測(cè)方法，為精確測(cè)量與綜合評(píng)估設(shè)備性能提供了新的思路。這種方法能夠同時(shí)測(cè)量多種物理量，如光強(qiáng)、色溫、電流等，......
-
一、產(chǎn)品特性1、多種光學(xué)輸入直接進(jìn)入狹縫或通過(guò)光纖2、波長(zhǎng)范圍：200-1050nm可選3、光譜分辨率：0.2nm4、光纖耦合器:SMA9055、雜散光:6、高速數(shù)據(jù)采集，積分時(shí)間:毫秒級(jí)7、焦距72.5mm對(duì)稱非交叉H-T光路8、進(jìn)口閃耀......
QQ：24448278
郵箱：24448278@qq.com
傳真：
地址：浙江杭州紫金科創(chuàng)園福華大廈1幢4樓
